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• 日本日置HIOKI 微電阻計(jì)RM3544
• 日本日置HIOKI 微電阻計(jì)RM3544是使用4端子法來(lái)測(cè)量低電阻。根據(jù)銅線等溫度系數(shù)，能夠在室溫情況下將變化了的實(shí)測(cè)值換算成標(biāo)準(zhǔn)溫度的電阻值，適用于進(jìn)行繞組線的電阻測(cè)量。

• 日本日置無(wú)線數(shù)據(jù)記錄儀LR8410-30
• 無(wú)線輕松采集多點(diǎn)數(shù)據(jù)，無(wú)線數(shù)據(jù)記錄儀

• 馬達(dá)/諧波測(cè)試分析儀
• 馬達(dá)/諧波測(cè)試分析儀3194 *多可達(dá)6個(gè)輸入通道，用于分析逆變器馬達(dá)和高次諧波！ ?3194高次諧波分析*多達(dá)3000次 ?適合用于分析和評(píng)估逆變器馬達(dá)的情況以及家用電器的諧波。 ?另外，若安裝選件9603-01單元，儀器可直接測(cè)量在評(píng)估逆變器馬達(dá)情況時(shí)必須測(cè)量的扭矩和轉(zhuǎn)速。

• 日置電池測(cè)試儀
• 日置電池測(cè)試儀3555 立即測(cè)定電池劣化情況:小型二次電池用 ?通過(guò)對(duì)電池的內(nèi)電阻和內(nèi)電壓的測(cè)量 ?以合格(pass)，警告(warning)及不合格(fail)三段指示 ?使本系列產(chǎn)品能夠立即得到電池狀態(tài)的結(jié)果

• 日置微電阻計(jì)
• 日置微電阻計(jì)3540 提供可選手動(dòng)測(cè)試或系統(tǒng)應(yīng)用測(cè)試 ?4端子方法測(cè)量mΩ電阻（快速100ms響應(yīng)） ?比較器功能*多存儲(chǔ)7組表格 ?溫度補(bǔ)償功能，測(cè)量溫度并根據(jù)銅來(lái)計(jì)算20℃以下的對(duì)應(yīng)值。

• 日置微電阻計(jì)
• 日置微電阻計(jì)3541 寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測(cè)試的電阻計(jì) ?廣范圍測(cè)量 *低0.1μΩ（20.00mΩ），*高110MΩ ?快速采樣,*快可達(dá)0.6ms (*根據(jù)設(shè)定條件的不同,會(huì)有差異) ?補(bǔ)正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進(jìn)行溫度補(bǔ)正功能 ?運(yùn)用4端子測(cè)量技術(shù),測(cè)試線接觸電阻可忽略不計(jì) ?具備統(tǒng)計(jì)、演算功能。若再另配選件的9670,可達(dá)到印字功能。

• 日置微電阻計(jì) RM 3542
• 日置微電阻計(jì)RM3542 ?實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化系統(tǒng)中所要求的速度和高精度 ?雙重檢查功能保證準(zhǔn)確接觸，實(shí)現(xiàn)可靠性測(cè)試 ?可用于集成電路片電感器和EMC對(duì)應(yīng)零件的低能耗電阻測(cè)量 ?可用于制造工程中手動(dòng)的取樣檢查

• 日置微電阻計(jì)
• 日置微電阻計(jì)RM3543 用于測(cè)試超低或低并聯(lián)電阻的電阻計(jì) ?自動(dòng)化系統(tǒng)中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率 ?優(yōu)越的反復(fù)測(cè)量精度 ?提供高性能的接觸檢查功能，比較器功能和數(shù)據(jù)輸出功能 ?直觀的用戶接口，高度抗干擾性，樶實(shí)用與自動(dòng)一體化

• 日置電容測(cè)試儀
• 日置電容測(cè)試儀3506 對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試 ?反復(fù)測(cè)量精度更高，樶適合生產(chǎn)線 ?校正維修功能，減低由環(huán)境的溫度變化影響 ?測(cè)量導(dǎo)線的過(guò)長(zhǎng)引起的阻抗變化，阻抗補(bǔ)正功能 ?比測(cè)儀的設(shè)定值和測(cè)定值的同步顯示 ?2ms的高速測(cè)量；1kHz,1MHz 測(cè)量 ?根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量 ?比測(cè)儀和觸發(fā)器同步輸出功能

• 日置電容測(cè)試儀
• 日置電容測(cè)試儀3505 對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試 ?反復(fù)測(cè)量精度更高，樶適合生產(chǎn)線 ?校正維修功能，減低由環(huán)境的溫度變化影響 ?測(cè)量導(dǎo)線的過(guò)長(zhǎng)引起的阻抗變化，阻抗補(bǔ)正功能 ?比測(cè)儀的設(shè)定值和測(cè)定值的同步顯示 ?2ms的高速測(cè)量；1kHz,1MHz 測(cè)量 ?根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量 ?比測(cè)儀和觸發(fā)器同步輸出功能

• 日置LCR測(cè)試儀
• 日置LCR測(cè)試儀3532-50 搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀 測(cè)試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位**度自由調(diào)整 可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)

• 日置LCR測(cè)試儀
• 日置LCR測(cè)試儀3535 高速LCR儀，采樣率可高至120MHz 100kHz～120MHz的寬頻帶 高速LCR測(cè)試（6ms/采樣） 拆卸式前置放大器可選擇 為比較標(biāo)準(zhǔn)元件提供補(bǔ)償?shù)摹柏?fù)載補(bǔ)償功能

• 電池測(cè)試儀
• 日本日置電池測(cè)試儀BT3563 可直接測(cè)量高達(dá)300V的電壓（BT3563） 用于檢查高電壓電池組/電池單元的生產(chǎn)線 大型（低電阻）電池單元檢查 多種接口可用于高速自動(dòng)化產(chǎn)線中