在CISPR16-1-4中，FAC定義為“沒有反射平面的測(cè)試場(chǎng)地”。與SAC（半電波暗室）相比，它不僅墻體和天花板會(huì)安裝吸波材料，地板也會(huì)敷設(shè)吸波材料。FAC的優(yōu)點(diǎn)主要是不會(huì)發(fā)生地面反射，因此不需要天線高度掃描，節(jié)省了許多測(cè)試時(shí)間。然而，暗室的測(cè)試布置就會(huì)比較特殊和繁瑣（由于地面敷設(shè)了吸波材料），特別是在EUT重量和體積都比較大時(shí)，測(cè)試布置的困難就更為明顯。總的來說，建設(shè)完合符合要求的FAC一定會(huì)比同類的SAC的尺寸更大，花費(fèi)更多，其*大的優(yōu)點(diǎn)就是可以節(jié)省測(cè)試時(shí)間，并且可以滿足某些特定產(chǎn)品的特定性能測(cè)試的要求（如無線產(chǎn)品雜散測(cè)試）。
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